För utvecklingsarbetet presenteras tre olika metoder för att ta fram brusmodeller för transistorer, för produktionstest presenteras en ny metod för beröringsfri mätning av delsystemkomponenter som är integrerade på ett och samma kretskort.

Eftersom det tar lång tid att få prototyper av integrerade kretsar tillverkade är det av stor vikt att det blir rätt från början. Det gör att simuleringsmodellerna som används då man konstruerar integrerade kretsar måste vara noggranna. Huvuddelen av forskningen i avhandlingen beskriver nya metoder för rationellt framtagande av transistorbrusmodeller. Brusmodeller är av stor vikt vid konstruktion av telekommunikationsprodukter eftersom de hjälper till att förutsäga hur känslig mottagaren blir. Mottagarens känslighet är viktig för prestandan eftersom en känslig mottagare gör att mindre effekt kan användas i sändaren vilket ger lägre strömförbrukning och därmed längre batteritid.

Ett stort problem vid produktionstest av moderna radiosystem är att en allt större del av systemet har blivit integrerat på ett enda kretskort. För att genomföra fullständiga test på delsystemen, genom att mäta parametrarna, på ett sådant kretskort blir man tvungen att delvis plocka isär kortet. Detta är en tidsödande process och den är inte alltid möjlig då demonteringen kan skada komponenterna. Resultatet är att man håller sig till enklare testmetoder som inte ger en fullständig bild av kretsarnas funktion. Testmetoden som presenteras i avhandlingen kan komma runt det här problemet genom att man använder enkla spännings- och strömsensorer som plockar upp en liten del av signalerna som rör sig mellan kretsarna. Poängen med dessa sensorer är att de kan användas utan att man gör några förändringar på kretskortet. Sensorerna medger också att testet genomförs när delsystemet befinner sig i sin rätta omgivning. Sensorn används tillsammans med en konventionell vektornätanalysator, det behövs alltså inte någon ny utrustning utöver sensorn.

Avhandlingen ”Microwave Transistor Noise Model Extraction Methods and A Non-Contacting Scattering Parameter Measurement Method” försvarades vid en offentlig disputation på Chalmers den 23 november

Mer information:
Jörgen Stenarson, Mikroelektronik, Chalmers tekniska högskola,tel: 031-772 3609, e-post: stenarson@ep.chalmers.se

Presskontakt:

Christian borg

Telefon:

031-7723395

Mobil:

0766-314235